DIN EN IEC 60749-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (IEC 60749-12:2017); German version EN IEC 60749-12:2018
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| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 July 2018 |
| Status: | active |
| Page Count: | 8 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Dieser Teil von IEC 60749 beschreibt eine Prüfung zur Bestimmung der Wirkung von Schwingungen mit variabler Frequenz innerhalb des festgelegten Frequenzbereichs auf innere Strukturelemente. Dies ist eine zerstörende Prüfung. Sie ist üblicherweise für Hohlraum-Gehäuse anwendbar.
ANMERKUNG Dieses Prüfverfahren beschreibt eine Gleitsinusprüfung. Eine Prüfung mit rauschförmiger Schwingung ist im JEDEC-Dokument JESD 22-B103 beschrieben.
Document History
DIN EN IEC 60749-12
July 1, 2018
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (IEC 60749-12:2017); German version EN IEC 60749-12:2018
Dieser Teil von IEC 60749 beschreibt eine Prüfung zur Bestimmung der Wirkung von Schwingungen mit variabler Frequenz innerhalb des festgelegten Frequenzbereichs auf innere Strukturelemente. Dies ist...