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In der vorliegenden Norm wird ein Verfahren für die zerstörungsfreie Leitfähigkeitsmessung von metallischen Schichten festgelegt.

Es handelt sich um zerstörungsfreie berührende oder berührungsfreie Messungen auf üblichen metallischen Überzügen oder Teilen. Der Prüfkopf oder ein Messgerät mit integrierter Sonde wird auf dem zu messenden Überzug oder Teil aufgesetzt. Das Messgerät gibt die Leitfähigkeit σ des Materials an.

Die Messung kann sowohl zur direkten Bestimmung der Leitfähigkeit bei T = 20 °C als Materialeigenschaft, als auch zur Ermittlung anderer Materialeigenschaften, die mit der Leitfähigkeit korrelieren oder zur vergleichenden indirekten Messung verschiedener Materialien bzw. Materialeigenschaften eingesetzt werden. Typische Materialeigenschaften, die mit der Leitfähigkeit korreliert sein können, sind z. B. die Härte, die Gefügefestigkeit von Legierungen, Schichtspannung u. a.

ANMERKUNG 1 Die Messung der Schichtdicke nach DIN EN ISO 21968 basiert auf demselben Messprinzip, das hier für die Leitfähigkeitsmessung beschrieben wird. Auf Unterschiede und Besonderheiten wird hingewiesen.

ANMERKUNG 2 Die Leitfähigkeit wird in der Einheit S/m angegeben (SI-Einheit, Siemens pro Meter), aufgrund der Größenordnung meist in MS/m. In der praktischen Anwendung wird auch häufig die Einheit % IACS verwendet, wobei die Abkürzung für „International Annealed Copper Standard" steht [1]. Die Leitfähigkeit vom geglühten Kupfer beträgt konventionsgemäß σ_Cu = 58 MS/m, dieser Bezugswert entspricht 100 % IACS. D. h., Überzüge oder Teile mit einer höheren Leitfähigkeit als 58 MS/m haben damit Werte größer als 100 % IACS (z. B. Silber σ_Ag = 62,5 MS/m entspricht 107,76 % IACS). Die Umrechnung erfolgt über die einfache proportionale Beziehung

��[% IACS] = ��[MS/m] /58 MS/m.100 % IACS