DIN EN 60749-4
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017); German version EN 60749-4:2017
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| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 November 2017 |
| Status: | active |
| Page Count: | 12 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
In diesem Teil der IEC 60749 ist das Prüfverfahren bei konstanter feuchter Wärme mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST, en: Highly Accelerated Stress Test) beschrieben, um die Zuverlässigkeit von nicht hermetisch verkappten Halbleiterbauelement
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DIN EN 60749-4
November 1, 2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017); German version EN 60749-4:2017
In diesem Teil der IEC 60749 ist das Prüfverfahren bei konstanter feuchter Wärme mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST, en: Highly Accelerated Stress Test) beschrieben, um die Zuverlässigkeit von...
June 1, 2016
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
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April 1, 2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
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