DIN EN 60749-41
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 41: Zuverlaessigkeitspruefverfahren fuer nichtfluechtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)
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| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 April 2017 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 35 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
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DIN EN 60749-41
April 1, 2017
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 41: Zuverlaessigkeitspruefverfahren fuer nichtfluechtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)
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