TSE - TS EN 60749-16
Semiconductor devices ? Mechanical and climatic test methods ? Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 10 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Noise emitted by machines and equipment): | 17.140.20 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, seramik dilimleri, baglama teli parcalari veyalehim kureleri (kulceleri) gibi bosluklara sahip elemanlarinicerisind
Document History
TS EN 60749-16
April 10, 2008
Semiconductor devices ? Mechanical and climatic test methods ? Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Bu standard, seramik dilimleri, baglama teli parcalari veyalehim kureleri (kulceleri) gibi bosluklara sahip elemanlarinicerisindeki gevsek parcaciklarin varliginin tespit edilmesinikapsar
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.