TSE - TS EN 60749-17
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 29 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Notronla isinlama deneyi, yari iletken elemanlarin bu turisimalarin oldugu ortamlardaki bozulma duyarliliginin belirlemesinikapsar
Document History
TS EN 60749-17
April 29, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
Notronla isinlama deneyi, yari iletken elemanlarin bu turisimalarin oldugu ortamlardaki bozulma duyarliliginin belirlemesinikapsar
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.