TSE - TS EN 60749-8
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 30 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, yari iletken elemanlara (munferit elemanlar vetumlesik devreler) uygulanacak sizdirmazlik deneyini kapsar. Budeneyin amaci, yari iletken elemanlardaki sizinti miktarini tayinetmektir
Document History
TS EN 60749-8
April 30, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Bu standard, yari iletken elemanlara (munferit elemanlar vetumlesik devreler) uygulanacak sizdirmazlik deneyini kapsar. Budeneyin amaci, yari iletken elemanlardaki sizinti miktarini tayinetmektir
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.