TSE - TS EN 60749-18
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 29 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, tumlesik yari iletken entegre devrelerin vemunferit yari iletken elemanlarin Kobalt-60 (60Co) gamma isinikaynagi ile iyonlastirici radyasyona (toplam doz) maruz birakmadeneyi sartlarinin belirlenmesi icin bir deney islemini kapsar
Document History
TS EN 60749-18
April 29, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Bu standard, tumlesik yari iletken entegre devrelerin vemunferit yari iletken elemanlarin Kobalt-60 (60Co) gamma isinikaynagi ile iyonlastirici radyasyona (toplam doz) maruz birakmadeneyi sartlarinin...
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.