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Dieses Dokument legt die physikalischen Grundlagen und praktischen Mittel für die Verfahren zur Beurteilung von Oberflächenunvollkommenheiten fest.

Für mit dem Sichtbarkeitsverfahren spezifizierte Unvollkommenheiten werden zwei Prüfverfahren beschrieben. Die erste ist die visuelle Beurteilung der Oberfläche ohne jegliches Vergleichsnormal (IV_V). Die zweite ist die visuelle Beurteilung einer Oberflächenunvollkommenheit im Vergleich zu einem Artefakt mit bekannter Helligkeit (IS_V).

Für mit dem Abmessungsverfahren spezifizierte Unvollkommenheiten werden drei Verfahren beschrieben. Die erste ist die visuelle Beurteilung der Oberfläche ohne jegliches Vergleichsnormal (IV_D). Die zweite ist die Abmessungsbeurteilung einer Oberflächenunvollkommenheit im Vergleich zu einem Artefakt mit bekannter Größe (IS_D). Die dritte ist die Messung einer Oberflächenunvollkommenheit mit Vergrößerung und entweder einem Vergleichsartefakt mit bekannter Größe oder einer Strichplatte bzw. einem Maßstab (IM_D).

Es sind Instrumente verfügbar, die eine objektive Messung der Helligkeit (Digital-Scatterometrie) oder der Größe (Digital-Mikroskopie) ermöglichen. Obwohl diese Instrumente für die Beurteilung von Oberflächenunvollkommenheiten benutzt werden können, liegen sie außerhalb des Anwendungsbereiches dieses Dokumentes.

Dieses Dokument ist auf optische Oberflächen von Bauteilen oder Baugruppen wie Dubletts oder Tripletts anwendbar.

Dieses Dokument kann auf optische Bauteile aus Kunststoff angewendet werden; jedoch wird auf die Tatsache aufmerksam gemacht, dass Beschädigungen von Kunststoffmaterialien sich optisch häufig stark von denen in härteren Materialien unterscheiden, da durch diese nicht immer Material entfernt wird sondern durch Materialverdrängung Wellen in der Oberfläche entstehen können. Folglich können optische Vergleiche von Kratzern und Löchern (en: digs) in Kunststoffen mit ähnlichen Beschädigungen in Glas oder kristallinen Materialien zu sehr unterschiedlichen Ergebnissen führen.