TSE - TS 2553
Essential Ratings and Characteristics of Semiconductor Devices and General Principles of Measuring Methods Part 3: Referance Methods of Measurement
inactive, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 17 February 1977 |
| Status: | inactive |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, yari iletken elemanlarin gerekli sinir degerleri veozelliklerinin olculmesi icin referans metotlarini kapsar. Bustandardda yari iletken elemanlarin gerekli sinir degerleri veozellikleri olculurken, olcme metodunun secilmesinde, gozonunealinmasi gereken noktalar ve referans olarak kullanilacak olcmemetotlari tanitilmis..
Document History
TS 2553
February 17, 1977
Essential Ratings and Characteristics of Semiconductor Devices and General Principles of Measuring Methods Part 3: Referance Methods of Measurement
Bu standard, yari iletken elemanlarin gerekli sinir degerleri veozelliklerinin olculmesi icin referans metotlarini kapsar. Bustandardda yari iletken elemanlarin gerekli sinir degerleri veozellikleri...