TSE ISO/TS 13762
Particle size analysis - Small angle X-ray scattering method
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 19 April 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Particle size analysis. Sieving): | 19.120 |
scope:
Bu standard, kucuk acili X-isini sacilma teknigi ile asiri incetoz numunelerin tane buyuklugu dagilimini belirlemek icinkullanilan bir yontemi kapsar. Bu yontem, 1 nm il? 300 nmaraligindaki tane buyuklukleri icin uygulanir. Veri analizlerinde,tanele
Document History
TSE ISO/TS 13762
April 19, 2004
Particle size analysis - Small angle X-ray scattering method
Bu standard, kucuk acili X-isini sacilma teknigi ile asiri incetoz numunelerin tane buyuklugu dagilimini belirlemek icinkullanilan bir yontemi kapsar. Bu yontem, 1 nm il? 300 nmaraligindaki tane...