TSE - TS EN 60749-6
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 15 April 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, uygulanan herhangi bir elektriksel zorlama olmadanyuksek sicakliklarda depolama isleminin yari iletken elektronikcihazlar uzerindeki etkisinin belirlenmesini ve bu cihazlarindeneye t?bi tutulmasini kapsar
Document History
TS EN 60749-6
April 15, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature
Bu standard, uygulanan herhangi bir elektriksel zorlama olmadanyuksek sicakliklarda depolama isleminin yari iletken elektronikcihazlar uzerindeki etkisinin belirlenmesini ve bu cihazlarindeneye t?bi...
November 11, 2002
IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Bu standard, kısa mesafeli cihazlar (SRD'ler) sınıfındaki 9 kHz-25 Mhz frekans aralığında çalışan vericileri, 9 kHz-30 MHz frekans aralığında çalışan alıcıları kapsar.