TSE - TS EN 60749-33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004)
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 2 December 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, her biri 10 J'u aşmayan kinetik enerjili, metal olmayan sicim kesme elemanlı veya mil üzerinde serbestçe dönen metal olmayan kesicili, şebeke gerilimiyle çalışan, ayakta duran bir operatör tarafından çim kesme için arkasından itilerek ve elde taşınarak kullanılan çim biçme makinaları ile çim kenarı biçme makinalarını kapsar.
Document History
TS EN 60749-33
December 2, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004)
Bu standard, her biri 10 J’u aşmayan kinetik enerjili, metal olmayan sicim kesme elemanlı veya mil üzerinde serbestçe dönen metal olmayan kesicili, şebeke gerilimiyle çalışan, ayakta duran bir...