UNLIMITED FREE
ACCESS
TO THE WORLD'S BEST IDEAS

SUBMIT
Already a GlobalSpec user? Log in.

This is embarrasing...

An error occurred while processing the form. Please try again in a few minutes.

Customize Your GlobalSpec Experience

Finish!
Privacy Policy

This is embarrasing...

An error occurred while processing the form. Please try again in a few minutes.

TSE - TS ENV 50219

Description of the reliability test structures of the European mini test chip

inactive, Most Current
Organization: TSE
Publication Date: 3 September 1996
Status: inactive
ICS Code (Integrated circuits. Microelectronics): 31.200
scope:

Bu standard, bilgi teknolojisi teçhizatlarına uygulanır. Bu standardın CCA-201 işletim dokümanıyla bağlantılı olarak kullanılması amaçlanmıştır. Bu standard, TS EN 60950'ye uygun olarak belgelendirilen veya uygun olduğu beyan edilen teçhizatın imalatı sırasında veya sonrasında uygulanabilecek rutin elektriksel deneyler ve bunlara ait işlemleri tanımlar. Alternatif olarak, imalatçılar TS EN 60950'y

Document History

TS ENV 50219
September 3, 1996
Description of the reliability test structures of the European mini test chip
Bu standard, bilgi teknolojisi teçhizatlarına uygulanır. Bu standardın CCA-201 işletim dokümanıyla bağlantılı olarak kullanılması amaçlanmıştır. Bu standard, TS EN 60950'ye uygun olarak...
Advertisement