UNLIMITED FREE
ACCESS
TO THE WORLD'S BEST IDEAS

SUBMIT
Already a GlobalSpec user? Log in.

This is embarrasing...

An error occurred while processing the form. Please try again in a few minutes.

Customize Your GlobalSpec Experience

Finish!
Privacy Policy

This is embarrasing...

An error occurred while processing the form. Please try again in a few minutes.

DIN EN IEC 61189-2-720

Pruefverfahren fuer Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 2-720: Detektion von Defekten in Verbindungsstrukturen durch Kapazitaetsmessung (IEC 91/1786/CD:2022); Text Deutsch und Englisch

pending, Most Current
Organization: DIN
Publication Date: 1 September 2022
Status: pending
Page Count: 19
ICS Code (Printed circuits and boards): 31.180

Document History

DIN EN IEC 61189-2-720
September 1, 2022
Pruefverfahren fuer Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 2-720: Detektion von Defekten in Verbindungsstrukturen durch Kapazitaetsmessung (IEC 91/1786/CD:2022); Text Deutsch und Englisch
A description is not available for this item.
Advertisement