DIN EN IEC 60749-41
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 41: Standardisierte Pruefverfahren fuer die Zuverlaessigkeit von nichtfluechtigen Speicher-Bauelementen (IEC 60749-41:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-41:2020
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| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 March 2023 |
| Status: | active |
| Page Count: | 26 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
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DIN EN IEC 60749-41
March 1, 2023
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 41: Standardisierte Pruefverfahren fuer die Zuverlaessigkeit von nichtfluechtigen Speicher-Bauelementen (IEC 60749-41:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-41:2020
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