VDE 0887-969-1-5
Hochfrequenz-Steckverbinder - Teil 1-5: Elektrische Pruefverfahren - Degradation der Anstiegszeit (IEC 61169-1-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 61169-1-5:2022
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| Organization: | VDE |
| Publication Date: | 1 October 2023 |
| Status: | active |
| ICS Code (RF connectors): | 33.120.30 |
Document History
VDE 0887-969-1-5
October 1, 2023
Hochfrequenz-Steckverbinder - Teil 1-5: Elektrische Pruefverfahren - Degradation der Anstiegszeit (IEC 61169-1-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 61169-1-5:2022
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May 1, 2023
Hochfrequenz-Steckverbinder - Teil 1-5: Elektrische Pruefverfahren - Degradation der Anstiegszeit (IEC 61169-1-5:2022); Deutsche Fassung EN IEC 61169-1-5:2022
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