DIN EN 62047-10
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (IEC 62047-10:2011); German version EN 62047-10:2011
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 March 2012 |
| Status: | active |
| Page Count: | 13 |
| ICS Code (Electromechanical components in general): | 31.220.01 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
In diesem Teil der IEC 62047 ist ein Druckprüfverfahren an
zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik
zur Messung der Druckeigenschaften dieser Werkstoffe mit hoher
Genauigkeit, Wiederholbarkeit und einem angemessenen Aufwand bei
der Herstellung der Mikroproben festgelegt. Es werden die durch
Druckbeanspruchung verursachten einachsigen
Spannungs-Dehnungs-V
Die Mikroprobe ist ein zylinderförmiger Stab, der auf einem
nicht elastischen (oder sehr steifen) Substrat mithilfe
mikrosystemtechnolog
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