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CEI EN 60749-1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

active, Most Current
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Organization: CEI
Publication Date: 1 April 2005
Status: active
Page Count: 18
scope:

La presente Norma fa parte della serie EN 60749 di cui è appunto la norma capostipite.
La serie 60749 riguarda i metodi di prova meccanici e climatici per dispositivi a semiconduttori.
Ciascun metodo di prova viene descritto in una norma specifica facente parte della serie 60749-x.
La numerazione dei metodi è sequenziale e non esiste alcuna relazione tra il numero ed il metodo di prova.
La presente norma generale fornisce l'elenco delle prove ed il riferimento alla norma specifica della serie.
Inoltre in essa vengono stabilite le disposizioni comuni a tutte le altre parti della serie.
La Norma EN 60749-1 sostituisce, unitamente alle altre Parti della serie, la EN 60749:1999 e sue Modifiche.

Document History

CEI EN 60749-1
April 1, 2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
La presente Norma fa parte della serie EN 60749 di cui è appunto la norma capostipite. La serie 60749 riguarda i metodi di prova meccanici e climatici per dispositivi a semiconduttori. Ciascun metodo...

References

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