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La presente Norma è la versione italiana della Norma Europea CENELEC EN 60654-1, identica alla Pubblicazione IEC 654-1 (1993). Scopo della presente Parte della Pubblicazione IEC 654 è fornire agli utilizzatori e ai fornitori di sistemi di misura e di controllo dei processi industriali (e di parti di tali sistemi) un elenco uniforme delle condizioni ambientali selezionate a cui le apparecchiature possono essere esposte in luoghi specifici. Elenca le condizioni climatiche ambientali, per es. temperatura dell'aria, umidità e pressione atmosferica in luoghi specifici alle quali i sistemi di misura e di controllo dei processi industriali, situati a terra o su piattaforme in alto mare, possono essere esposti durante il funzionamento, durante i periodi in cui essi sono installati ma non funzionanti e durante l'immagazzinamento o il trasporto. Non vengono prese in considerazione le condizioni di manutenzione e di riparazione. Non vengono inoltre prese in considerazione le condizioni ambientali direttamente legate ai rischi di incendio di esplosione e alla radiazione ionizzata. Gli effetti delle condizioni ambientali specifiche sul personale non rientrano negli scopi della presente Parte. Le grandezze di influenza considerate sono limitate a quelle che possono influenzare direttamente la prestazione dei sistemi di misura e di controllo del processo. Vengono considerate soltanto le condizioni ambientali in quanto tali. Stabilisce le classi dei luoghi con livelli di severità , o gruppi di livelli di severità, per le condizioni ambientali elencate. I valori limite della presente Parte sono definiti e specificati nelle Pubblicazioni IEC 721-3-3 (Norma CEI 75-9 II ed.) e IEC 721-3-4 (Norma CEI 75-10 I ed.). E' prevista per servire come base all'utilizzatore e al fornitore per la preparazione di specifiche esaurienti riguardo alle condizioni ambientali. Uno degli scopi della Parte è quello di evitare problemi derivanti dalla scarsa considerazione delle specifiche condizioni ambientali che influenzano la prestazione dei sistemi e di parti dei sistemi. Altro scopo è quello di essere d'aiuto nella scelta dei livelli di severità da utilizzare nello sviluppo di specifiche di valutazione delle apparecchiature di misura e di controllo dei processi industriali.