CEI EN 60749-8
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
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| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 November 2004 |
| Status: | active |
| Page Count: | 26 |
scope:
La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e si applica ai dispositivi a semiconduttore ( dispositivi singoli e circuiti integrati).
Scopo della norma è quello di descrivere diversi metodi di prova per valutare il tasso di dispersione (perdita) dei dispositivi a semiconduttore.
La presente Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua originale inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.
Document History
CEI EN 60749-8
November 1, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e si applica ai dispositivi a semiconduttore ( dispositivi singoli e circuiti integrati).
Scopo della norma è quello di descrivere...