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La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e descrive un metodo di prova per determinare gli effetti su dispositivi a semiconduttore di un immagazzinamento a temperatura elevata, senza sollecitazioni di tipo elettrico.
La prova non è distruttiva e preferibilmente dovrebbe essere usata per la qualificazione dei dispositivi.
In generale la prova di immagazzinamento ad alta temperatura è conforme alla IEC 60068-2-48, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.