CEI - EN 61788-10
Superconduttività - Parte 10: Misura della temperatura critica - Temperatura critica di superconduttori compositi di NbTi, Nb3Sn e ossidi a base di Bismuto, mediante metodo resistivo
inactive
| Organization: | CEI |
| Publication Date: | 1 May 2003 |
| Status: | inactive |
scope:
Questa parte della IEC 61788 specifica un metodo di prova per la determinazione della temperatura critica di alcuni tipi di semiconduttori compositi per uso industriale.
La presente Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua originale inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma é annullata e sostituita dalla Nuova edizione, CEI EN 61788-10:2007-04 (CEI 90-8); tuttavia rimane applicabile fino al 01-09-2009.
Document History
April 1, 2007
Superconductivity - Part 10: Critical temperature measurement - Critical temperature of composite superconductors by a resistance method
La presente Norma fornisce le specifiche del metodo di prova resistivo per la misura della temperatura critica di superconduttori compositi ad uso industriale, nei quali tale metodo è largamente...
EN 61788-10
May 1, 2003
Superconduttività - Parte 10: Misura della temperatura critica - Temperatura critica di superconduttori compositi di NbTi, Nb3Sn e ossidi a base di Bismuto, mediante metodo resistivo
Questa parte della IEC 61788 specifica un metodo di prova per la determinazione della temperatura critica di alcuni tipi di semiconduttori compositi per uso industriale.
La presente Norma viene...