scope:

La presente Norma descrive una serie di piani di prova ottimizzati, le curve caratteristiche relative ed i tempi di prova attesi.
Essa descrive inoltre le procedure necessarie per stabilire se i valori osservati di tasso di guasto, intensità di guasto, tempo medio al guasto (MTTF) e tempo operativo medio tra guasti (MTBF) siano conformi ad una prescrizione data.
La presente edizione costituisce revisione tecnica della precedente rispetto alla quale sono stati aggiunti, tra gli altri:
- nuovi piani di prova;
- algoritmi di ottimizzazione di piani di prova mediante l'utilizzo di un foglio di calcolo;
- correzioni di discrepanze nei piani di prova A e B;
- istruzioni sui criteri di scelta dei piani di prova e sull'utilizzo del foglio di calcolo per la creazione dei medesimi.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.