DIN EN 60749-42
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature humidity storage (IEC 47/2131/CD:2012)
inactive
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 July 2012 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 14 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
Document History
May 1, 2015
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014); German version EN 60749-42:2014
In diesem Teil der IEC 60749 ist ein Prüfverfahren zur Schätzung der Lebensdauer von Halbleiterbauelementen, die bei Umgebungsbedingungen mit hohen Temperaturen und hohen relativen Luftfeuchten...
DIN EN 60749-42
July 1, 2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature humidity storage (IEC 47/2131/CD:2012)
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