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Dieser Technische Bericht führt Techniken zur Bewertung des tribologischen Verhaltens von Gleitkontakten mit lateralen Abmessungen von einigen Nanometern (nm) bis 10 μm, bei denen die aufgebrachte Last zwischen 50 μN und 100 mN beträgt, ein. Er beschreibt Verfahren zur Durchführung dieser Messungen und bietet einen Leitfaden bezüglich des Einflusses der Messparameter auf die Prüfergebnisse. Die bestehenden SPM-Verfahren wie Reibungskraftmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie (AFM) bleiben unberücksichtigt.