UNLIMITED FREE
ACCESS
TO THE WORLD'S BEST IDEAS

SUBMIT
Already a GlobalSpec user? Log in.

This is embarrasing...

An error occurred while processing the form. Please try again in a few minutes.

Customize Your GlobalSpec Experience

Finish!
Privacy Policy

This is embarrasing...

An error occurred while processing the form. Please try again in a few minutes.

DIN IEC/TR 62878-2-2

Device embedded substrate - Guidelines - Electrical testing (IEC 91/1138A/CD:2013)

inactive, Most Current
Organization: DIN
Publication Date: 1 April 2014
Status: inactive
Page Count: 21
ICS Code (Printed circuits and boards): 31.180
scope:

Zweck dieses Technischen Berichts ist es, Anwendern die notwendigen Informationen zu den elektrischen Prüfungen von Trägermaterialien mit eingebetteten Bauteilen, insbesondere zur Durchgangsprüfung und zur Funktionsprüfung der Bauteile, zu geben.

Dieser Technische Bericht gilt für Trägermaterialien mit eingebetteten Bauteilen, die unter Verwendung von organischen Basismaterialien gefertigt sind und zum Beispiel aktive oder passive Bauteile, mikro-elektromechanische Systeme (MEMS), im Fertigungsprozess elektronischer Leiterplatten gebildete Einzelbauteile und schichtförmige Bauelemente umfassen.

Aus keramischem Werkstoff gefertigte Trägermaterialien fallen nicht in den Anwendungsbereich.

Umverdrahtungslagen (RDL - Re-Distribution Layer) werden in diesem Dokument nicht beschrieben.

Trägermaterialien mit eingebetteten Bauteilen und mit auf der Oberfläche montierten Bauelementen (Elektronikmodule) sind vom Anwendungsbereich ausgenommen; sie werden in IEC 62421 beschrieben.

Document History

DIN IEC/TR 62878-2-2
April 1, 2014
Device embedded substrate - Guidelines - Electrical testing (IEC 91/1138A/CD:2013)
Zweck dieses Technischen Berichts ist es, Anwendern die notwendigen Informationen zu den elektrischen Prüfungen von Trägermaterialien mit eingebetteten Bauteilen, insbesondere zur Durchgangsprüfung...
Advertisement