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DIN 50453-1

Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Aetzraten von Aetzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren

inactive
Organization: DIN
Publication Date: 1 October 1990
Status: inactive
Page Count: 3
ICS Code (Semiconducting materials): 29.045

Document History

DIN 50453-1
August 1, 2023
Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Aetzraten von Aetzmischungen - Teil 1: Silicium-Einkristalle, Gravimetrisches Verfahren
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DIN 50453-1
February 1, 2023
Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Aetzraten von Aetzmischungen - Teil 1: Silicium-Einkristalle, Gravimetrisches Verfahren
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DIN 50453-1
October 1, 1990
Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Aetzraten von Aetzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren
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