DIN EN 60749-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002
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| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 April 2003 |
| Status: | inactive |
| Page Count: | 7 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
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DIN EN 60749-10
April 1, 2003
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002
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