DIN IEC/TS 62622
Nanotechnologien - Beschreibung, Messung und dimensionale Qualitaetsparameter von kuenstlichen Gittern (IEC/TS 62622:2012)
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 September 2014 |
| Status: | active |
| Page Count: | 38 |
| ICS Code (Electronic components in general): | 31.020 |
| ICS Code (Nanotechnologies): | 07.120 |
scope:
Diese Technische Spezifikation legt eine generische Terminologie für die globalen und lokalen Qualitätsparameter von künstlichen Gittern, die als Abweichungen von den nominalen Positionen der Gitterstrukturen anzusehen sind, fest. Das Dokument bietet auch eine Anleitung dafür, wie die Mess- und Auswertemethoden zur Bestimmung dieser Parameter kategorisiert werden können.
Diese Spezifikation soll die Kommunikation zwischen Herstellern,
Anwendern und Kalibrierlaboratorie
Diese Spezifikation unterstützt die Qualitätssicherung bei der Produktion und dem Einsatz von künstlichen Gittern in verschiedenen Anwendungsbereichen der Nanotechnologie. Während die Definitionen und beschriebenen Methoden universell für eine große Bandbreite verschiedener Gitter anwendbar sind, liegt der Schwerpunkt auf den eindimensionalen und zweidimensionalen Gittern.
Document History