scope:

La presente norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 ed ha lo scopo di verificare che i materiali, la progettazione, la costruzione e le marcature di un dispositivo a semiconduttori siano conformi a quanto specificato nella relativa documentazione di approvvigionamento.
L'esame esterno a vista è una prova non distruttiva e può essere applicato ad ogni tipo di confezione di dispositivo.
Questa prova è utile nelle fasi di qualificazione, monitoraggio e di accettazione dei lotti.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.