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Mikrowellenschaltungen werden im Allgemeinen auf organischen oder nicht organischen Mehrlagensubstraten gefertigt. In den Mikrowellenschaltungen wird die Dämpfung von planaren Übertragungsleitungen, z. B. Streifenleitungen, Mikrostreifenleitungen und Koplanarleitungen, durch ihre Leiterverluste, dielektrischen Verluste und Strahlungsverluste bestimmt. Dabei spielen die Leiterverluste eine wesentliche Rolle bei der Dämpfung der planaren Übertragungsleitungen. In diesem Dokument wird ein neues Messverfahren zur Bewertung der Leitfähigkeit einer Übertragungsleitung auf oder in den Trägern, z. B. organischen, keramischen oder LTCC(Niedertemperatur-Einbrand-Keramik-)-Trägern (LTCC - en: low temperature cofired creamics), festgelegt. Diese Norm beschreibt ein Messverfahren für den Widerstand und die effektive Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger, die als Grenzflächenwiderstand bzw. Grenzflächenleitfähigkeit bezeichnet werden.

Dieses Messverfahren weist die folgenden Merkmale auf:

- Der Grenzflächenwiderstand Ri wird aus den Messwerten der Resonanzfrequenz f₀ und der Leerlaufgüte Qu eines dielektrischen TE₀₁δ-Moden-Stabresonators nach Bild 2 bestimmt.

- Die Grenzflächenleitfähigkeit σ i und die relative Grenzflächenleitfähigkeit σri = σ i / σ0 werden aus dem ermittelten Wert von Ri berechnet, wobei σ0 = 5,8 × 107 S/m die Leitfähigkeit von Standardkupfer ist.

- Die Messunsicherheit für σri (Δσri) beträgt weniger als 5 %.