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In diesem Teil der IEC 62607, der eine technische Spezifikation ist, wird eine standardisierte Probengeometrie für die Charakterisierung der Transporteigenschaften von organischen Nano-Dünnschicht-Bauelementestrukturen vorgeschlagen und das Format für die Prüfberichtstruktur und der Detaillierungsgrad vorgegeben. Die in dieser Norm beschriebene OTFT-Teststruktur mit einer kontaktflächenlimitierten Dotierung kann die Kontaktwiderstandsprobleme abmildern und dadurch eine zuverlässige Messung der Ladungsträgerbeweglichkeit ermöglichen. Der Zweck dieser Norm ist, standardisierte Teststrukturen für die Bestimmung der Transporteigenschaften von Ladungsträgern in organischen Dünnschichtbauelementen zu definieren. Dabei werden sowohl die Anforderungen an belastbare Daten zum Ausgangsmaterial für die OTFTs definiert, als auch Richtlinien für die Herstellung der Teststrukturen aufgestellt. Im Ergebnis werden damit der Forschung in der Industrie und in akademischen Institutionen Informationen transparent und konsistent zur Verfügung gestellt.