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DIN SPEC 1994

Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Anionen in schwachen Saeuren

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Organization: DIN
Publication Date: 1 February 2017
Status: active
Page Count: 11
ICS Code (Semiconducting materials): 29.045
scope:

Dieser Fachbericht legt ein Verfahren zur Bestimmung der Anionen Chlorid, Sulfat, Nitrat und Phosphat in Flusssäure, Ammoniumfluorid-Lösung und deren Gemische sowie in Essigsäure im Bereich von 10 ng/g bis 1 000 ng/g fest.

Der Arbeitsbereich ist durch die Kapazität der Anreicherungssäulen und durch die der Trennsäule begrenzt. Eine Probenverdünnung in den Arbeitsbereich kann erforderlich sein.

Nach vorheriger Prüfung kann das Verfahren auch auf die Matrices Ameisensäure, Glycolsäure, und andere schwache Säuren angewendet werden

Document History

DIN SPEC 1994
February 1, 2017
Pruefung von Materialien fuer die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Anionen in schwachen Saeuren
Dieser Fachbericht legt ein Verfahren zur Bestimmung der Anionen Chlorid, Sulfat, Nitrat und Phosphat in Flusssäure, Ammoniumfluorid-Lösung und deren Gemische sowie in Essigsäure im Bereich von 10...
July 1, 2016
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of anions in weak acids
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References

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