DIN EN 60749-9
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017); German version EN 60749-9:2017
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 November 2017 |
| Status: | active |
| Page Count: | 10 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Zweck dieses Teils der IEC 60749 ist es, zu bestimmen, ob die Kennzeichnungen auf festen Halbleiterbauelement
Dieses Prüfverfahren ist auf alle Gehäusearten anwendbar. Es ist für die Qualifikation und/oder Prozessüberwachung geeignet. Das Prüfverfahren wird als nicht zerstörend betrachtet. Für den Zweck dieses Prüfverfahrens können Rückweisungen aus elektrischen und mechanischen Prüfungen verwendet werden.
ANMERKUNG 1 Dieses Prüfverfahren ist nicht anwendbar für mit Laser gekennzeichnete Gehäuse.
Viele der verfügbaren Lösungsmittel, die eingesetzt werden könnten, sind entweder nicht ausreichend wirksam, zu aggressiv oder sogar für den Menschen gefährlich, wenn er mit ihnen in Berührung kommt oder ihre Dämpfe einatmet
ANMERKUNG 2 Die Zusammensetzung der in der vorliegenden Norm verwendeten Lösungsmittel wird als üblich und repräsentativ für die gewünschte Prüfschärfe angesehen, soweit normale Beschichtungen und Kennzeichnungen betroffen sind.
Document History
