TSE - TS EN 60749-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 10 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, yari iletken elemanlari (ayrisik elemanlar vetumlesik devreler) kapsamakta ve bu seriyi olusturan diger butunstandardlar icin gecerli hukumleri saglamaktadir Bu standard ileilgili tedarik sartnamesi arasinda celiski olmasi halinde tedariksartnamesi esas alinmalidir
Document History
TS EN 60749-1
April 10, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Bu standard, yari iletken elemanlari (ayrisik elemanlar vetumlesik devreler) kapsamakta ve bu seriyi olusturan diger butunstandardlar icin gecerli hukumleri saglamaktadir Bu standard ileilgili...
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.