TSE - TS EN 60749-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
active
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 28 January 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.
Document History
April 10, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Bu standard, yari iletken elemanlari (ayrisik elemanlar vetumlesik devreler) kapsamakta ve bu seriyi olusturan diger butunstandardlar icin gecerli hukumleri saglamaktadir Bu standard ileilgili...
TS EN 60749-1
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.