TSE - TS EN 60749-25
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 29 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, yari iletken cihazlar ve bilesenlerin ve/veya panelaksamlarinin, yuksek ve dusuk uc sicaklik degerleri arasindakidegisim etkisiyle ortaya cikan mekanik zorlamalara dayanmayetenegini belirlemek icin bir deney islemini kapsar. Elektrikselve/veya fiziksel karakteristiklerdeki
Document History
TS EN 60749-25
April 29, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Bu standard, yari iletken cihazlar ve bilesenlerin ve/veya panelaksamlarinin, yuksek ve dusuk uc sicaklik degerleri arasindakidegisim etkisiyle ortaya cikan mekanik zorlamalara dayanmayetenegini...
December 2, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003) / Note: Endorsement notice
Bu standard, her biri 10 J’u aşmayan kinetik enerjili, metal olmayan sicim kesme elemanlı veya mil üzerinde serbestçe dönen metal olmayan kesicili, şebeke gerilimiyle çalışan, ayakta duran bir...