TSE - TS EN 60749-24
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 22 May 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, nemli ortamlarda hava sizdirmaz bicimde paketlenmiskati hal elemanlarinin guvenilirligini degerlendirmek amaciylayapilan kutuplanma uygulanmayan asiri hizlandirilmis zorlamadeneyini (AHZD) kapsar.
Document History
TS EN 60749-24
May 22, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST
Bu standard, nemli ortamlarda hava sizdirmaz bicimde paketlenmiskati hal elemanlarinin guvenilirligini degerlendirmek amaciylayapilan kutuplanma uygulanmayan asiri hizlandirilmis zorlamadeneyini...
December 2, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
Bu standard, her biri 10 J’u aşmayan kinetik enerjili, metal olmayan sicim kesme elemanlı veya mil üzerinde serbestçe dönen metal olmayan kesicili, şebeke gerilimiyle çalışan, ayakta duran bir...