TSE - TS EN 60749-24
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
active
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 2 December 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, her biri 10 J'u aşmayan kinetik enerjili, metal olmayan sicim kesme elemanlı veya mil üzerinde serbestçe dönen metal olmayan kesicili, şebeke gerilimiyle çalışan, ayakta duran bir operatör tarafından çim kesme için arkasından itilerek ve elde taşınarak kullanılan çim biçme makinaları ile çim kenarı biçme makinalarını kapsar.
Document History
May 22, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST
Bu standard, nemli ortamlarda hava sizdirmaz bicimde paketlenmiskati hal elemanlarinin guvenilirligini degerlendirmek amaciylayapilan kutuplanma uygulanmayan asiri hizlandirilmis zorlamadeneyini...
TS EN 60749-24
December 2, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
Bu standard, her biri 10 J’u aşmayan kinetik enerjili, metal olmayan sicim kesme elemanlı veya mil üzerinde serbestçe dönen metal olmayan kesicili, şebeke gerilimiyle çalışan, ayakta duran bir...