TSE - TS EN 60749-5
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 10 April 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, nemli ortamlarda hava sizdirmaz bicimdeambalajlanmis
Document History
TS EN 60749-5
April 10, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Bu standard, nemli ortamlarda hava sizdirmaz bicimdeambalajlanmis kati hal elemanlarinin guvenilirligini degerlendirmekamaciyla uygulanan surekli durum nem ve sicaklik kutuplamali omurdeneyini kapsar
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.