TSE - TS EN 60749-5
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
active
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 28 January 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.
Document History
April 10, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Bu standard, nemli ortamlarda hava sizdirmaz bicimdeambalajlanmis kati hal elemanlarinin guvenilirligini degerlendirmekamaciyla uygulanan surekli durum nem ve sicaklik kutuplamali omurdeneyini kapsar
TS EN 60749-5
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.