TSE - TS EN 60749-31
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 22 May 2008 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, munferit elemanlari ve tumlesik yari iletkendevreleri kapsar. Bu deneyin amaci yari iletken elemanin asiriyukleme sonucunda olusan d?hili isidan alev alip almadigininbelirlenm
Document History
TS EN 60749-31
May 22, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Bu standard, munferit elemanlari ve tumlesik yari iletkendevreleri kapsar. Bu deneyin amaci yari iletken elemanin asiriyukleme sonucunda olusan d?hili isidan alev alip almadigininbelirlenmesidir.
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.