TSE - TS EN 60749-31
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
active
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 28 January 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Ignitability and burning behaviour of materials and products): | 13.220.40 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.
Document History
May 22, 2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Bu standard, munferit elemanlari ve tumlesik yari iletkendevreleri kapsar. Bu deneyin amaci yari iletken elemanin asiriyukleme sonucunda olusan d?hili isidan alev alip almadigininbelirlenmesidir.
TS EN 60749-31
January 28, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Bu standard, rahim içinde uzun süre bulunarak gebeliği önleyici etki gösteren rahim içi araçları kapsar. İlaçı rahim içi araçları kapsamaz.