TSE - TS EN 60749-4
IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
active
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 11 November 2002 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, kısa mesafeli cihazlar (SRD'ler) sınıfındaki 9 kHz-25 Mhz frekans aralığında çalışan vericileri, 9 kHz-30 MHz frekans aralığında çalışan alıcıları kapsar.
Document History
April 15, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Bu standard, siki bir sekilde paketlenmemis yari iletkencihazlarin nemli ortamlarda guvenilirliginin degerlendirilmesiamaciyla yapilan yuksek seviyede hizlandirilmis sicaklik ve nemzorlamasi deneyini...
TS EN 60749-4
November 11, 2002
IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Bu standard, kısa mesafeli cihazlar (SRD'ler) sınıfındaki 9 kHz-25 Mhz frekans aralığında çalışan vericileri, 9 kHz-30 MHz frekans aralığında çalışan alıcıları kapsar.