TSE - TS EN 60749-4
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 15 April 2004 |
| Status: | active |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Bu standard, siki bir sekilde paketlenmemis yari iletkencihazlarin nemli ortamlarda guvenilirliginin degerlendirilmesiama
Document History
TS EN 60749-4
April 15, 2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Bu standard, siki bir sekilde paketlenmemis yari iletkencihazlarin nemli ortamlarda guvenilirliginin degerlendirilmesiamaciyla yapilan yuksek seviyede hizlandirilmis sicaklik ve nemzorlamasi deneyini...
November 11, 2002
IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Bu standard, kısa mesafeli cihazlar (SRD'ler) sınıfındaki 9 kHz-25 Mhz frekans aralığında çalışan vericileri, 9 kHz-30 MHz frekans aralığında çalışan alıcıları kapsar.