TSE - TS EN 61000-4-11
Electromagnetic Compatibility (EMC) Part 4: Testing And Measuring Techniwues Section 11: Voltage DIPS, Short Interruptions And Voltage Cariations Immunity Tests
inactive
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 3 December 1996 |
| Status: | inactive |
| ICS Code (Electrical engineering in general): | 29.020 |
scope:
Bu standardda, alcak gerilim guc kaynagi sebekelerine baglananelektriksel ve elektronik cihazlar icin gerilim cukurlari, kisakesintiler ve gerilim degismeleri ile ilgili bagisiklik deneyimetotlari ve tercih edilen deney seviyeleri grubu tarif edilmistir.Bu standard, faz basina 16 A'yi asmayan beyan giris akimina sahipelektriksel ve elektronik cihazlara uygulanir. Bu standard, d.a.sebekelerin
Document History
October 12, 2006
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Bu standard, alçak gerilim güç kaynağı şebekelerine bağlanan elektrikli ve elektronik cihazlar için gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri ile ilgili bağışıklık deney metotlarını...
March 16, 2006
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Bu standard, beyan gerilimi bir faz ile nötr arasına bağlanan tek fazlı cihazlar için 250 V’u dan ve diğer cihazlar için 480 V’ dan daha yüksek olmayan evlerde kullanılması amaçlanmayan elektrikle...
April 1, 2004
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Bu standard, alcak gerilim guc kaynagi sebekelerine baglananelektriksel ve elektronik cihazlar icin gerilim cukurlari, kisakesintiler ve gerilim degismeleri ile ilgili bagisiklik deneyimetotlari ve...
TS EN 61000-4-11
December 3, 1996
Electromagnetic Compatibility (EMC) Part 4: Testing And Measuring Techniwues Section 11: Voltage DIPS, Short Interruptions And Voltage Cariations Immunity Tests
Bu standardda, alcak gerilim guc kaynagi sebekelerine baglananelektriksel ve elektronik cihazlar icin gerilim cukurlari, kisakesintiler ve gerilim degismeleri ile ilgili bagisiklik deneyimetotlari ve...