TSE - TS EN 61000-4-11
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
active, Most Current
| Organization: | TSE |
| Publication Date: | 12 October 2006 |
| Status: | active |
| ICS Code (Immunity): | 33.100.20 |
scope:
Bu standard, alçak gerilim güç kaynağı şebekelerine bağlanan elektrikli ve elektronik cihazlar için gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri ile ilgili bağışıklık deney metotlarını ve tercih edilen deney seviyeleri grubunu kapsar
Document History
TS EN 61000-4-11
October 12, 2006
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Bu standard, alçak gerilim güç kaynağı şebekelerine bağlanan elektrikli ve elektronik cihazlar için gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri ile ilgili bağışıklık deney metotlarını...
March 16, 2006
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Bu standard, beyan gerilimi bir faz ile nötr arasına bağlanan tek fazlı cihazlar için 250 V’u dan ve diğer cihazlar için 480 V’ dan daha yüksek olmayan evlerde kullanılması amaçlanmayan elektrikle...
April 1, 2004
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Bu standard, alcak gerilim guc kaynagi sebekelerine baglananelektriksel ve elektronik cihazlar icin gerilim cukurlari, kisakesintiler ve gerilim degismeleri ile ilgili bagisiklik deneyimetotlari ve...
December 3, 1996
Electromagnetic Compatibility (EMC) Part 4: Testing And Measuring Techniwues Section 11: Voltage DIPS, Short Interruptions And Voltage Cariations Immunity Tests
Bu standardda, alcak gerilim guc kaynagi sebekelerine baglananelektriksel ve elektronik cihazlar icin gerilim cukurlari, kisakesintiler ve gerilim degismeleri ile ilgili bagisiklik deneyimetotlari ve...