DIN EN 60749-40
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011
| Organization: | DIN |
| Publication Date: | 1 February 2012 |
| Status: | active |
| Page Count: | 23 |
| ICS Code (Semiconductor devices in general): | 31.080.01 |
scope:
Dieser Teil der IEC 60749 dient der Bewertung und dem
Vergleichen des Verhaltens bei Fallbeanspruchung eines
oberflächenmontierba
Entsprechend dieser Internationalen Norm wird ein
Dehnungsmessstreifen
ANMERKUNG 1 Obwohl man mit diesem Prüfverfahren eine Aufbau- und
Verbindungsstruktur in ihrer Kombination von Montageverfahren und
dessen Bedingungen, dem Leiterplattenentwurf
ANMERKUNG 2 Eine starke Beeinflussung des Prüfergebnisses erfolgt durch Unterschiede bei den Lötbedingungen, der Gestaltung (Design) der Lötanschlussflächen (Pads/Lands) auf der Leiterplatte, dem Lot usw. Es ist notwendig, bei der Prüfdurchführung zu beachten, dass mit diesem Prüfverfahren die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen des Halbleiter- Bauelementes an sich nicht garantiert werden kann.
ANMERKUNG 3 Falls die bei diesem Prüfverfahren verwendete mechanische Beanspruchung bei der tatsächlichen Anwendung des Bauelementes nicht auftritt, ist diese Prüfung nicht erforderlich.
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