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DIN EN 62047-7

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011); German version EN 62047-7:2011

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Organization: DIN
Publication Date: 1 February 2012
Status: active
Page Count: 30
ICS Code (Electromechanical components in general): 31.220.01
ICS Code (Semiconductor devices in general): 31.080.01
scope:

Dieser Teil der IEC 62047 legt Begriffe, Definitionen, Symbole, Konfigurationen sowie Prüf- und Messverfahren fest, die für Bewertungen und Ermittlungen der Leistungs- und Funktionskenngrößen von BAW-Resonatoren, -Filtern und -Duplexern (BAW, en: bulk acoustic waves) als Bauelemente zur Stabilisierung und Selektion von Hochfrequenz(HF)-Signalen verwendet werden können. Dieses Dokument legt die Prüf- und Messverfahren und allgemeine Anforderungen für BAW-Resonatoren, -Filter und -Duplexer mit bestätigter Qualität fest, um für Fähigkeits- oder Qualifikations-Anerkennungsverfahren verwendet zu werden.

Document History

DIN EN 62047-7
February 1, 2012
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011); German version EN 62047-7:2011
Dieser Teil der IEC 62047 legt Begriffe, Definitionen, Symbole, Konfigurationen sowie Prüf- und Messverfahren fest, die für Bewertungen und Ermittlungen der Leistungs- und Funktionskenngrößen von...

References

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